您好,欢迎访问常州宇协智能科技有限公司官网

全国咨询热线

0519-83858380

联系我们

常州宇协智能科技有限公司

咨询热线0519-83858380

地址:常州市新北区庆阳路166号
手机:18669869916
邮箱:changzhousrc@126.com

ICT,AOI,ATE,XAI,飞针测试比较

发布时间:2020-06-22 00:00人气:
ICT,AOI,ATE,XAI,飞针测试比较 AOI ICT ATE AXI 飞针 成本 较高 低 高 高 高 工作模式 光学测试 电气测试 电气测试 光学X射线 电气测试 测试对象 SMD SMD/DIP SMD/DIP BGA SMD/DIP 检测重点 物理损件 电气+物理 电气+物理 物理损件 电气+物理 开/短路 光学测试 电气测试 电气测试 光学测试 电气测试 夹具 无 有,成本低 有,成本很高 无 无 时间/速度 慢 快 较快 慢 很慢 误判率 高 低 低 较低 高 维护费用 较低 低 高 高 高 使用以上设备主要目的都是为了提高生产工艺水平,提高生产质量也就是所谓制程良率。ICTATE飞针测试是通过电气测试检测元件,在检测制程的同时也检测元件的电气良率,并可帮助维修提高出货良率及提高返修效率。就ICT而言,各家软/硬件电路各异,有的硬体设计复杂自我保护性高,硬体不易损坏,测试量程宽信号广,如宇协PTI816。有的设计简单成本低,无相关辅助保护电路设计,如:在待测带电的情况下测试会损坏设备等。ICT,AOI,ATE,XAI,飞针测试比较

推荐资讯

0519-83858380